白色干渉計の、新しいカタチ。 ナノ・マイクロ・ミリ、これ1台で測定は完結する

白色干渉計搭載 レーザ顕微鏡 VK-X3000シリーズ

「ナノレベル」を高精度に測る、最新機能

最高分解能0.01nm。小さな形状変化も正確に捉える。スキャンが難しい透明体や鏡面体にも対応

焦点位置を検出して瞬時に自動調整

レーザーオートフォーカス

従来ピント合わせが難し
かった干渉用レンズでも、瞬時にピント位置を確定。Z方向の調整を自動的に
行うことを実現しました。

傾き状態を検知して簡単に調整が可能

NEW ヌリングサポート機能

従来の干渉計で手間だった傾き調整をサポートする新機能。ワークの傾きを検出し、必要な補正角度を自動的に計算します。
調整前に操作の度合いがわかるので、簡単・確実・スピーディに調整できます。

白色干渉計のニガテをなくし、高度な測定・解析を実現。

白色干渉計のニガテを補完する、トリプルスキャン方式

測定能力
「急峻な形状」や「反射率・色の違うワーク」でもノイズやデータ抜けなく、高精度な測定が可能に。
観察能力
従来の白色干渉計では、苦手だった観察。トリプルスキャン方式によりすべてにピントがあった、高精細カラー観察を実現。

詳しくは、ぜひカタログをダウンロードしてご確認ください。

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