高速・高精度CCDレーザ変位計
LK-G3000 シリーズ

センサ部

型式

LK-G505

LK-G500

画像

基準距離

拡散反射：500mm、正反射：497.5mm

拡散反射：500 mm、正反射：497.5 mm

測定範囲

拡散反射：-250 ～ +500 mm、正反射：-249 ～ +498 mm*1

光源

種類

赤色半導体レーザ

波長

655 nm (可視光)、クラス3R レーザ製品*2 (JIS C6802)

出力

最大 4.8 mW

スポット径 (基準距離にて)

約 300 × 9,500 µm

約 ø300 µm

直線性

±0.05 % of F.S. (-250 ～ +250 mm)
ロングレンジ：±0.1% of F.S. (-250 ～ +500 mm)
高精度レンジ：±0.02% of F.S. (-250 ～ -50 mm) (F.S.=±250 mm)*3

繰り返し精度

2 µm*4

サンプリング周期

20・50・100・200・500・1,000 µs (6 段階可変)

LED表示

測定中心付近：緑点灯、測定範囲内：橙点灯、測定範囲外：橙点滅

温度特性

0.01 % of F.S./℃ (F.S.=±250 mm)

耐環境性

保護構造

IP67 (IEC60529)

使用周囲照度

白熱ランプ/蛍光灯：10,000 lux 以下

使用周囲温度

0 ～ +50 ℃

使用周囲湿度

35 ～ 85 % RH (結露しないこと)

耐振動

10 ～ 55 Hz、複振幅 1.5 mm、X,Y,Z 各方向 2 時間

質量

約 380 g (コード含む)

*1 弊社標準対象物 (セラミック) を標準モードにて測定した場合の値。
サンプリング周期 20 µs 時は拡散反射時 -230 mm (NEAR側) ～ -250 mm (NEAR側)、正反射時 -230 mm (NEAR側) ～ -249 mm (NEAR側)、
サンプリング周期 50 µs 時は拡散反射時 -125 mm (NEAR側) ～ -250 mm (NEAR側)、正反射時 -125 mm (NEAR側) ～ -249 mm (NEAR側)になります。
*2 クラス2 タイプも用意しております。別途お問い合わせください。
*3 弊社標準対象物 (セラミック) を標準モードにて測定した場合の値。
*4 弊社標準対象物 (SUS) を基準距離にて平均回数 4,096 回で測定した場合の値。