LumiTrax™正反射照明

縞パターン発光を高速制御
微細欠陥の見える化を実現

CMOS センサと照明の発光パターン制御を超高速に同期させることで、1回の撮像から検査内容に応じた複数の画像を生成できます。従来目視でなければ判別できなかった、金属、ガラス面に発生するさまざまな欠陥をインライン測定でも見える化できます。

LumiTrax™ 正反射モード処理原理

縞パターンの異なる画像同士を演算

欠陥部分が抽出された画像が生成される

異なる演算方法により、複数の画像を生成

1回の撮像で生成される主な画像の種類

画像の種類
①ノーマル画像 ②正反射画像 ③拡散反射画像 ④光沢比画像 ⑤形状画像
画像生成方法 撮像したすべての画像の平均 縞パターンのうち、正反射成分のみを抽出 ①と②を比較し、拡散反射成分を抽出 ②と③を比較し、光沢に変化がある部分を抽出 縞パターンのうねりから、凹凸などの変化部を抽出
主な用途 全体像の把握や位置補正元に使用 光沢表面の線傷や擦れ傷の検査などに使用 異物・汚れ検査などに使用 表面のくすみ、円柱、側面などの傷検査に使用 打痕、浅い凹凸などの検査に使用

アプリケーション

金属円柱側面検査(ベアリングなど)

巣穴・表面凹凸( 形状画像)
線傷 (拡散反射画像)
擦れ傷 (正反射画像)