衝撃試験タイプ:落下試験

ここでは、保持落下型・回転ドラム型などの落下試験について説明します。

試験と試験機の種類

落下試験は大きく2つに分類でき、それぞれ目的によって使い分けられます。
1つは「包装貨物落下試験」で、物流過程での落下を想定しています。もう1つは「非包装製品(製品自体)」の落下試験で、利用環境を想定しています。
また、落下試験機は「保持型落下試験機」と「回転ドラム型落下試験機」に分類できます。

保持型落下試験機
任意の方向に固定した製品を指定した高さから落下させる装置です。これは、試験サンプルを何度も同じ角度(例えばスマートフォンの角部分など)で落下させたい場合に有効な方法です。また通常、試験装置の床面は鉄板ですが、製品の使用環境によってはコンクリートやフローリング板・カーペットなど、実環境に近い条件で試験を行う場合もあります。
回転ドラム型落下試験機
ドラム内に製品を入れて一定の回転速度でドラムを回し、繰り返し落下状態を発生させる装置です。
保持型落下試験機イメージ
保持型落下試験機
回転ドラム型落下試験機イメージ
回転ドラム型落下試験機

上記の方法はいずれもJIS-C-60068-2-31に準拠した方法で、要求される落下の高さや製品の重量によって、必要な試験機を選定します。
これらの試験は、一般的に完成品やその内部部品(プリント基板・IC・コネクタなど)に対する耐衝撃性の品質保証のために実施されており、企業間取引の際に必要な条件とされている場合もあります。

また、最近では高い衝撃加速度に対する試験要求も増加しつつあります。これは、モバイル製品が落下した際、非常に高い加速度が発生することに起因しています。例えば、携帯電話が1 mの高さから鉄板に落ちると、数千Gもの加速度が発生することが実験によって確認されています。

計測の概要

衝撃加速度や衝撃を受けた製品のひずみを計測します。また、試験対象が電気/電子製品である場合は、製品の動作の状態も確認します。

計測の概要
評価対象
スマートフォン、タブレット、デジタルカメラなどのモバイル機器、その内部部品であるプリント基板・IC・コネクタなどの落下環境で使用されるようなもの。
得られるデータ
衝撃(加速度) 、ひずみ量、変形量、電子回路の電圧変動、瞬断など

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